Estudio de métodos, la medición del trabajo y la definición de tiempos estándares en Florecer Cía Ltda (Registro nro. 113874)
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000 -CABECERA | |
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campo de control de longitud fija | 00729nam a2200205Ia 4500 |
001 - NÚMERO DE CONTROL | |
campo de control | 68114 |
008 - LONGITUD FIJA | |
campo de control de longitud fija | 200505s9999 xx 000 0 und d |
040 ## - FUENTE DE CATALOGACIÓN | |
Centro catalogador/agencia de origen | EC-QuPUC |
Lengua de catalogación | Español |
100 1# - AUTOR PERSONAL | |
nombre | Echeverría, Juan David. |
245 #0 - TÍTULO PROPIAMENTE DICHO | |
título | Estudio de métodos, la medición del trabajo y la definición de tiempos estándares en Florecer Cía Ltda |
260 ## - PIE DE IMPRENTA | |
Ciudad de publicación | Quito |
Editor, distribuidor | Pontificia Universidad Católica del Ecuador, Facultad de Ciencias Administrativas |
Fecha de publicación | 2002 |
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA | |
Extensión | viii, 112 p. |
Ilustraciones | |
Dimensiones | 30 cm |
500 ## - NOTA GENERAL | |
Nota general | Ingeniero Comercial |
502 ## - NOTA DE TESIS | |
Nota de tesis | Tesis Ciencias Administrativas |
504 ## - NOTA DE BIBLIOGRAFÍA | |
Bibliografía, etc. | Bibliografía: p. 104 |
082 04 - CLASIFICACIÓN DECIMAL DEWEY | |
Clasificación | Tesis/338.1759/Ech43e |
650 #4 - MATERIA GENERAL | |
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial | FLORICULTURA - ECUADOR |
650 #4 - MATERIA GENERAL | |
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial | INGENIERIA INDUSTRIAL |
942 00 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL KOHA | |
Préstamos Koha (prestado), todas las copias | 0 |
Ocultar en el OPAC | Perdido | Dañado | No circula | Colección | Nota de inventario | Sede propietaria | Localización actual | Ubicación | Adquirido | Proveedor | Volumen | Signatura topográfica | Código de barras | Visto por última vez | Ejemplar | Tipo de ítem |
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No oculto | Col General | Inventariado 2024 | Sede Quito | Sede Quito | Subsuelo | 12/31/2010 | COMPRA | V.0001 | Tesis/338.1759/Ech43e | PUCE115475 | 05/12/2020 | Ej.01 | Tesis |