Nanoscale CMOS VLSI circuits : (Registro nro. 286283)

Detalles MARC
000 -CABECERA
campo de control de longitud fija 01672cam a2200373 a 4500
001 - NÚMERO DE CONTROL
campo de control 16284731
005 - FECHA Y HORA DE ACTUALIZACIÓN
005 20231003082500.0
008 - LONGITUD FIJA
campo de control de longitud fija 100615s2010 nyua b 001 0 eng
010 ## - NÚMERO DE CONTROL DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO
Número de control de LC 2010022678
015 ## - NÚMERO DE BIBLIOGRAFÍA NACIONAL
Número de bibliografía nacional GBB011406
Fuente bnb
016 7# - NÚMERO DE CONTROL DE UNA AGENCIA BIBLIOGRÁFICA NACIONAL
Número de control del registro 015478365
Fuente Uk
020 ## - INTERNATIONAL STANDARD BOOK NUMBER
ISBN 9780071635196 (alk. paper)
020 ## - INTERNATIONAL STANDARD BOOK NUMBER
ISBN 007163519X (alk. paper)
035 ## - NÚMERO DE CONTROL DEL SISTEMA
Número de control de sistema (OCoLC)ocn426811674
040 ## - FUENTE DE CATALOGACIÓN
Centro catalogador/agencia de origen DLC
Centro/agencia transcriptor EC-QuPUC
Centro modificador DLC
Lengua de catalogación Español
Normas de descripción rda
Catalogador
041 ## - IDIOMA
idioma Inglés
100 1# - AUTOR PERSONAL
nombre Kundu, Sandip.
245 10 - TÍTULO PROPIAMENTE DICHO
título Nanoscale CMOS VLSI circuits :
subtítulo design for manufacturability /
Mención de responsabilidad, etc. Sandip Kundu, Aswin Sreedhar
246 14 - VARIANTE DEL TÍTULO
título Nanoscale complementary metal oxide semiconductor very large-scale integration circuits
264 #1 - PIE DE IMPRENTA
lugar (ciudad) New York :
editorial McGraw-Hill,
fecha 2010.
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA
Extensión xv, 296 p. :
Ilustraciones ill. ;
Dimensiones 24 cm.
336 ## - TIPO DE CONTENIDO
Término de tipo de contenido texto
337 ## - MEDIACIÓN
Nombre/término del tipo de medio no mediado
338 ## - PORTADOR
Nombre/término del tipo de soporte volumen
504 ## - NOTA DE BIBLIOGRAFÍA
Bibliografía, etc. Includes bibliographical references and index.
505 0# - NOTA DE CONTENIDO
Nota de contenido Semiconductor manufacturing -- Process and device variability : analysis and modeling -- Manufacturing-aware physical design closure -- Metrology, manufacturing defects, and defect extraction -- Defect impact modeling and yield improvement techniques -- Physical design and reliability -- Design for manufacturability : tools and methodologies.
700 1# - COAUTOR PERSONAL
Nombre de persona Sreedhar, Aswin.
856 ## - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS
URL <a href="https://www.accessengineeringlibrary.com/content/book/9780071635196">https://www.accessengineeringlibrary.com/content/book/9780071635196</a>
082 00 - CLASIFICACIÓN DECIMAL DEWEY
Clasificación 621.395
edición 22
650 #0 - MATERIA GENERAL
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial Metal oxide semiconductors, Complementary
Subdivisión general Design and construction.
650 #0 - MATERIA GENERAL
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial Integrated circuits
Subdivisión general Very large scale integration
-- Design and construction
650 #0 - MATERIA GENERAL
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial Nanoelectronics.
942 ## - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL KOHA
Tipo de ítem koha E-Book
Existencias
Ocultar en el OPAC Perdido Esquema de clasificación Dañado No circula Sede propietaria Localización actual Adquirido Proveedor Préstamos Signatura topográfica Código de barras Visto por última vez Tipo de ítem
No oculto   Dewey Decimal Classification     Sede Quito Sede Quito 10/03/2023 McGraw-Hill   621.395 Ebook00339 10/03/2023 E-Book
Recursos Repositorio Herramienta Guias Normativa


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