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Materials characterization : introduction to microscopic and spectroscopic methods / Leng, Yang
Productor: [sin lugar] : Weinheim, Germany, Wiley-vch , 2013Descripción: 598 páginas ; 24 cmTipo de contenido:- texto
- no mediado
- volumen
- 9783527334636
- 620.11 L5661m 2013
Contenidos:
1. Light microscopy.-- 2. Ray diffraction mothods.-- 3. Transmission electron microscopy.-- 4. Scanning electron microscopy.-- 5. Scanning probe microscopy.-- 6. X-Ray spectroscopy for elemental analysis.-- 7. Electron spectroscopy for surface analysis.-- 8. secondary lon mass epectrometry for suface analysis.-- 9. Vibrational spectrscopy for molecular analysis.-- 10. thermal analysis.
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Signatura topográfica | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Libro
|
Sede Ambato Sala general | Col General | 620.11 L5661m 2013 (Navegar estantería(Abre debajo)) | Ej.1 | Disponible | AMB012357 |
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Incluye bibliografía
1. Light microscopy.-- 2. Ray diffraction mothods.-- 3. Transmission electron microscopy.-- 4. Scanning electron microscopy.-- 5. Scanning probe microscopy.-- 6. X-Ray spectroscopy for elemental analysis.-- 7. Electron spectroscopy for surface analysis.-- 8. secondary lon mass epectrometry for suface analysis.-- 9. Vibrational spectrscopy for molecular analysis.-- 10. thermal analysis.
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