Microstructural characterization of materials / David Brandon (Registro nro. 220259)
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| 000 -CABECERA | |
|---|---|
| campo de control de longitud fija | 01000nam a2200217Ia 4500 |
| 001 - NÚMERO DE CONTROL | |
| campo de control | 15897 |
| 008 - LONGITUD FIJA | |
| campo de control de longitud fija | 150612s2008 xxu 000 0 eng d |
| 020 ## - INTERNATIONAL STANDARD BOOK NUMBER | |
| ISBN | 9780470027851 |
| 100 ## - AUTOR PERSONAL | |
| nombre completo | Brandon, David |
| 245 10 - TÍTULO PROPIAMENTE DICHO | |
| título | Microstructural characterization of materials / David Brandon |
| 264 #0 - PIE DE IMPRENTA | |
| lugar (ciudad) | Estados Unidos de América: |
| editorial | Wiley, |
| fecha | 2008 |
| 300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA | |
| Extensión | 389 páginas ; |
| Dimensiones | 22 cm. |
| 336 ## - TIPO DE CONTENIDO | |
| Término de tipo de contenido | texto |
| 337 ## - MEDIACIÓN | |
| Nombre/término del tipo de medio | no mediado |
| 338 ## - PORTADOR | |
| Nombre/término del tipo de soporte | volumen |
| 504 ## - NOTA DE BIBLIOGRAFÍA | |
| Bibliografía, etc. | Incluye bibliografía |
| 505 0# - NOTA DE CONTENIDO | |
| Nota de contenido | 1. The concept of microstructure.-- 2. Diffraction analysis of crystal structure.-- 3. Optical microscopy.-- 4. Transmission electron microscopy.-- 5. Scanning electron microscopy.-- 6. Microanalysis in electron microscopy. 7. Scanning probe microscopy and related techniques.-- 8. Chemical analysis of surface composition.-- 9. Quantitative and tomographic analysis of microstructure. |
| 082 04 - CLASIFICACIÓN DECIMAL DEWEY | |
| Clasificación | 620.11 |
| Clave de autor | B8191m 2008 |
| 650 14 - MATERIA GENERAL | |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial | MATERIALS. MICROSTRUCTURAL. |
| 942 00 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL KOHA | |
| Préstamos Koha (prestado), todas las copias | 0 |
| Tipo de ítem koha | Libro |
| Ocultar en el OPAC | Perdido | Dañado | No circula | Colección | Sede propietaria | Localización actual | Ubicación | Adquirido | Préstamos | Signatura topográfica | Código de barras | Visto por última vez | Ejemplar | Tipo de ítem |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| No oculto | Col General | Sede Ambato | Sede Ambato | Sala general | 06/12/2015 | 620.11 B8191m 2008 | AMB012359 | 03/08/2022 | Ej.1 | Libro |
