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Microstructural characterization of materials / David Brandon
Productor: Estados Unidos de América: Wiley, 2008Descripción: 389 páginas ; 22 cmTipo de contenido:- texto
- no mediado
- volumen
- 9780470027851
- 620.11 B8191m 2008
Contenidos:
1. The concept of microstructure.-- 2. Diffraction analysis of crystal structure.-- 3. Optical microscopy.-- 4. Transmission electron microscopy.-- 5. Scanning electron microscopy.-- 6. Microanalysis in electron microscopy. 7. Scanning probe microscopy and related techniques.-- 8. Chemical analysis of surface composition.-- 9. Quantitative and tomographic analysis of microstructure.
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Signatura topográfica | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Libro
|
Sede Ambato Sala general | Col General | 620.11 B8191m 2008 (Navegar estantería(Abre debajo)) | Ej.1 | Disponible | AMB012359 |
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Incluye bibliografía
1. The concept of microstructure.-- 2. Diffraction analysis of crystal structure.-- 3. Optical microscopy.-- 4. Transmission electron microscopy.-- 5. Scanning electron microscopy.-- 6. Microanalysis in electron microscopy. 7. Scanning probe microscopy and related techniques.-- 8. Chemical analysis of surface composition.-- 9. Quantitative and tomographic analysis of microstructure.
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